本文標(biāo)題:偏光顯微檢測時(shí)的晶體接觸
信息分類:站內(nèi)新聞 新聞來源：未知 發(fā)布時(shí)間：2015-9-27 14:08:15
偏光顯微檢測時(shí)的晶體接觸
通常我們在使用偏光顯微鏡進(jìn)行顯微檢測研究分析時(shí)，
則主要是根據(jù)兩個(gè)晶體物質(zhì)之間傾斜接觸進(jìn)行的。
在進(jìn)行接觸晶體之產(chǎn)間折射率大的面會(huì)比折射率小的晶
體之上，不會(huì)因?yàn)榻佑|面的平行光照射到接觸面從而進(jìn)
入到介質(zhì)當(dāng)中。
因此兩個(gè)相鄰的傾斜晶體物質(zhì)接觸面，則是概括了晶體
檢測表面上的突起與晶體單光偏振檢測晶體表面時(shí)發(fā)現(xiàn)
晶體的表面是光滑的。
而在這種情況下作偏光顯微檢測的晶體物質(zhì)，則是表面
顯得比較粗糙的呈現(xiàn)麻點(diǎn)的粗糙表面晶質(zhì)。
將本頁加入收藏
下一篇：使用單偏光鏡進(jìn)行觀察晶體的表面情況
上一篇：物理實(shí)驗(yàn)時(shí)所需要的實(shí)驗(yàn)性
本文出自上海永亨光學(xué)儀器有限公司，本文地址：http://www.000322.cn/xinwen/1846.html
工業(yè)顯微鏡測量顯微鏡視頻顯微鏡專業(yè)的供應(yīng)商
合作伙伴：http://www.xianweijing.org/顯微鏡百科
- 沒有資料
