本文標(biāo)題:使用顯微鏡檢測晶體物質(zhì)的形態(tài)是什么

使用顯微鏡檢測晶體物質(zhì)的形態(tài)是什么

通常我們在使用偏光顯微鏡進行顯微檢測研究分析時，
則主要是根據(jù)兩個晶體物質(zhì)之間傾斜接觸進行的。

在進行接觸晶體之產(chǎn)間折射率的檢測，晶體則是一種每
礦物的固定或是特定的形態(tài)進行的，而對于這種情況則
主要取決于晶體結(jié)構(gòu)與生長的條件進行的。

因此對于晶體的檢測還需要與生長結(jié)構(gòu)的一個礦物質(zhì)的
鑒別特征是分不開的。

因而我們通常情況下所對晶體進行檢測的是比較常見的
晶體形式形態(tài)，如軸狀晶體形態(tài)、板狀體形態(tài)、針狀體
形態(tài)、纖維狀體形態(tài)與集合體呈放射狀的體形態(tài)。

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